2 402 202 книги
Поиск
Жанры
Книги
Категории и жанры
Лучшие книги
Библиотека
Помощь
Мобильная версия
Контакты
Как помочь?
libcats.org
Самая большая
электронная библиотека
рунета. Поиск книг и журналов
↓
Только точные совпадения
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)
Автор:
Laung-Terng Wang
, Автор:
Cheng-Wen Wu
, Автор:
Xiaoqing Wen
Категория:
Техника
,
Электроника
,
СБИС
Размер книги: 6.82 Mb
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Автор:
Patrick Girard
, Автор:
Nicola Nicolici
, Автор:
Xiaoqing Wen
Размер книги: 4.52 Mb
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Автор:
Laung-Terng Wang
, Автор:
Cheng-Wen Wu
, Автор:
Xiaoqing Wen
Категория:
engeneering_technology
Размер книги: 5.66 Mb
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Автор:
Laung-Terng Wang
, Автор:
Cheng-Wen Wu
, Автор:
Xiaoqing Wen
Размер книги: 22.99 Mb
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Автор:
Laung-Terng Wang
, Автор:
Cheng-Wen Wu
, Автор:
Xiaoqing Wen
Размер книги: 6.03 Mb
